BEN - technická literatura Metrologie a hodnocení procesů - Olga Tůmová

Popis produktu

Publikace pojednává o teoretických problémech měření. V úvodu je přehled charakteristik náhodných procesů. Následuje pohled na procesy měření se zaměřením i na statistický výběr a hodnocení vzorků. Čtenář získá přehled o řešení chyb a nejistot, které jsou nezbytným doplňkem při zpracování výsledků měření. Jsou zde též uvedeny hlavní principy, které se používají při návrhu, měření a vyhodnocení experimentů. Publikace zorientuje čtenáře také v oblasti legální i praktické metrologie. Historie vydání 1. vydání - květen 2010 - 978-80-7300-249-7 Stručný obsah Obecné a teoretické problémy měření Základní charakteristiky náhodných procesů Metrologie - věda o měření Chyby a nejistoty měření Teorie a vyhodnocování experimentů Statistické řízení kvality procesů Měřicí procesy a jejich analýza Témata obecná charakteristika Metrologie, metronomie, kalibrace Obecné a teoretické problémy měření, Signál a informace, Měření a neurčitost, Model procesu měření a měřicího systému, Základní úlohy měření, Základní charakteristiky náhodných procesů, Distribuční funkce, Hustota pravděpodobnosti, Momenty obecné, Momenty centrální, Momenty normované, Charakteristiky spojitých rozdělení, Normální (Laplace-Gaussovo) rozdělení, Normované normální rozdělení, Rovnoměrné rozdělení spojité, Logaritmicko-normální rozdělení, Exponenciální rozdělení, Dvojitě exponenciální (Laplace) rozdělení, Weibullovo rozdělení, Rayleighovo rozdělení, Rozdělení gama, Rozdělení, Rozdělení beta, Rozdělení t (Studentovo), Rozdělení F (Fisherovo-Snedecorovo), Cauchyho rozdělení, Maxwellovo rozdělení, Paretovo rozdělení, Charakteristiky diskrétních rozdělení, Binomické rozdělení, Alternativní (Bernoulliho) rozdělení, Negativní binomické rozdělení, Geometrické rozdělení, Poissonovo rozdělení, Hypergeometrické rozdělení, Rovnoměrné diskrétní rozdělení, Metrologie věda o měření, Členění metrologie, Organizace působící v oblasti metrologie ČR a jejich hlavní úkoly, Legislativní a technické dokumenty v metrologii, Zákony, Vyhlášky Ministerstva průmyslu a obchodu, Normy ČSN z oblasti metrologie, Nařízení vlády, Rezortní předpisy z oblasti metrologie, Terminologie v metrologii, Metrologie a řízení kvality ve výrobním procesu a službách, Zákony a nařízení vlády, Normy ČSN pro zabezpečování kvality, Normy řady ISO 9000, Další související normy, Podniková metrologie, Metrologická pracoviště, Povinnosti pracovníků a odborných útvarů, Veličiny a jednotky, Fyzikální veličiny, Technické veličiny, Měřicí metody, Principy etalonáže, Základní pojmy, Návaznost etalonů a měřidel, Etalonáž základních jednotek SI soustavy, Etalonáž délky, Etalonáž hmotnosti, Etalonáž času, Etalonáž elektrických veličin, Etalonáž teploty, Etalonáž svítivosti, Ověřování a kalibrace měřidel, Ověřování měřidel, Kalibrace měřidel, Chyby a nejistoty měření, Přesnost měření a měřicích přístrojů, Rozdělení chyb podle příčiny vzniku, Rozdělení chyb podle zdrojů, Rozdělení chyb podle způsobu výskytu, Vyhodnocení náhodných chyb, Chyby měření, Chyby